Politechnika Wrocławska w ramach programu „Polska Metrologia” będzie realizowała projekt pod nazwą „Zapewnienie spójności pomiarowej wzorców świadków dużych rezystancji z możliwie najwyższą dokładnością”. Porozumienie o współpracy w ramach inicjatywy podpisali Rektor Politechniki Wrocławskiej prof. Arkadiusz Wójs oraz Prezes Głównego Urzędu Miar prof. Jacek Semaniak.  

Symboliczny czek na realizację projektu przekazał władzom uczelni Sekretarz Stanu w MEiN Wojciech Murdzek. Łączna kwota wsparcia w ramach programu to 854 100 zł.

„Funkcjonalna analiza powierzchni w inżynierii mechanicznej”

Projekt to kontynuacja dwóch wcześniejszych programów badawczych zrealizowanych w latach 2008-2011 i 2015-2018. W ramach tych projektów autorzy stworzyli w Głównym Urzędzie Miar system dwutorowy wzorcowania najważniejszych wzorców wtórnych rezystancji.

W ramach projektu „Funkcjonalna analiza powierzchni w inżynierii mechanicznej” zostaną przeprowadzone ponowne badania istniejącego systemu. Zmodernizowany zostanie także mostek aktywny, dzięki czemu rozszerzone zostaną jego możliwości pomiarowe, a także komora termostatyczna, co umożliwi poprawę jej parametrów oraz ułatwi sterowanie. Efektem prac będzie udoskonalony system zapewnienia spójności pomiarowej wzorców dużych rezystancji w zakresie 1 GW – 100 TW z możliwie najwyższą dokładnością, wykorzystujący transfery rezystancji. 

Wyniki prac zostaną opublikowane w czasopismach naukowych o zasięgu międzynarodowym i ogólnokrajowym, a także przedstawione na konferencjach międzynarodowych (m.in.: „Conference on Precision Electromagnetic Measurements”) oraz krajowych (m.in. „Międzyuczelniana Konferencja Metrologów i Podstawowe Problemy Metrologii”).

Ze strony Politechniki Wrocławskiej projektem pokieruje dr inż. Krystian Krawczyk z Katedry Podstaw Elektrotechniki i Elektrotechnologii.

„Polska Metrologia”

Celem programu „Polska Metrologia” jest wsparcie badań naukowych i prac rozwojowych w obszarach związanych z metrologią. Przedsięwzięcie umożliwia realizację projektów służących m.in. zwiększeniu konkurencyjności polskiej gospodarki oraz stymulowaniu rozwoju metrologii, w szczególności w obszarach zdrowia, środowiska, energii, zaawansowanych technik pomiarowych i rozwoju technologii cyfrowych.

Na realizację projektów w ramach programu „Polska Metrologia” Ministerstwo Edukacji i Nauki przeznaczyło ponad 21 mln zł. Do konkursu zgłoszono 83 wnioski, zaś do finansowania zostało zakwalifikowanych 26 projektów.